一、概述
FCT英文全稱為：Functional Circuit Test，即功能測(cè)試，它指的是針對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT：Unit Under Test)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載)，使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō)，就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì)和負(fù)載，測(cè)量其輸出端響應(yīng)是否滿足設(shè)計(jì)要求。一般專指PCBA的功能測(cè)試。
二、功能測(cè)試的分類
1，依據(jù)控制模式的不同，可以分為
1）手動(dòng)控制功能測(cè)試
2）半自動(dòng)控制功能測(cè)試
3）全自動(dòng)控制功能測(cè)試
最早的功能測(cè)試，主要以手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。即使現(xiàn)在，對(duì)于一些簡(jiǎn)單的被測(cè)板的功能測(cè)試，基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少制作成本考慮，有時(shí)還是會(huì)采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的測(cè)試方案。隨著科技的高速發(fā)展，為了節(jié)約生產(chǎn)成本和提高生產(chǎn)效率，現(xiàn)在的功能測(cè)試絕大多數(shù)都是使用全自動(dòng)的測(cè)試方案。
依據(jù)控制器類型來(lái)分，可以分為：
1）MCU控制方式
2）嵌入式CPU控制方式
3）PC控制方式
4）PLC控制方式等
其中，MCU控制方式可以視作簡(jiǎn)單的嵌入式控制。MCU和嵌入式CPU控制方式的特點(diǎn)在于:
1）測(cè)試執(zhí)行速度快
2）測(cè)試操作簡(jiǎn)單明了
3）數(shù)據(jù)顯示和輸出需要專用電路和程序
4）測(cè)試方案針對(duì)性強(qiáng)
5）測(cè)試軟件修改方便
PC的控制方式是目前使用最為廣泛的FCT測(cè)試方式，這主要是因?yàn)椋?br/> 1）PC技術(shù)已成為現(xiàn)今社會(huì)的基礎(chǔ)通用技術(shù)
2）PC價(jià)格便宜
3）測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)輸出和文件處理在PC的操作系統(tǒng)上能非常方便的實(shí)現(xiàn)
4）測(cè)試軟件的操作更貼近于使用者操作習(xí)慣
5）有專用的測(cè)試程序開發(fā)軟件
PLC的控制方式也是目前常用的一種FCT開發(fā)方式，它的重點(diǎn)多在于控制感應(yīng)部分，而針對(duì)被測(cè)板的測(cè)量功能偏弱。這是由于PLC是專業(yè)用于工業(yè)控制而決定的。
三、功能測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)成
PCBA功能測(cè)試的系統(tǒng)組成主要分為以下部分：
1.系統(tǒng)控制中心：
這部分一般是由PC、MCU、ARM等小型或者中型的中央處理器組成，是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的核心部件，它的主要作用是控制整個(gè)測(cè)試過(guò)程的運(yùn)行狀態(tài)，并對(duì)每一步的測(cè)試內(nèi)容及結(jié)果進(jìn)行判斷和記錄，最終得出測(cè)試結(jié)果。
2. 控制執(zhí)行部分：
控制執(zhí)行部分主要由I/O部件組成，它是測(cè)試過(guò)程邏輯動(dòng)作的感應(yīng)和執(zhí)行機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)通過(guò)它來(lái)搭建各種測(cè)試環(huán)境，實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能。
3. 參數(shù)測(cè)量部分：
測(cè)量部分主要由測(cè)量專用板卡、儀表組成，它主要完成測(cè)試過(guò)程中各種模擬或者數(shù)字量的采集工作，有時(shí)我們又稱其為數(shù)據(jù)采集部分。
4. 數(shù)據(jù)處理和輸出部分：
每一步以及最終的測(cè)試結(jié)果，才是我們整個(gè)測(cè)試的目的。如何把這些結(jié)果和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、輸出，更方便于我們對(duì)PCBA產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行有效控制，這就是數(shù)據(jù)處理和輸出部分的職責(zé)。
四、總結(jié)
PCBA中文叫實(shí)裝電路板，在PCBA的批量生產(chǎn)過(guò)程中，由于設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)和操作者的人為因素等，不可能保證生產(chǎn)出來(lái)的PCBA全部都是完好品，這就要求在生產(chǎn)的末端加入各種的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具，以保證出廠的所有實(shí)裝電路板與設(shè)計(jì)時(shí)的各種規(guī)格和參數(shù)完全一致，這就產(chǎn)生了ICT、AOI、X-Ray、Boundary-Scan、FCT等各種測(cè)試手段。